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A Microscopia por Varrimento de Sensor (SPM)
BSPQ | Série II / Número 64 / Volume Publicado: Março 1997 Página(s): 52
Palavras-chave: microscopia, varimento de sensor, Binning, Rohrer
Autor(es): J. Borges de Almeida Categoria: Técnicas Experimentais
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